Sie sind hier: Angewandte Geowissenschaften / Ausstattung / Mikrosondenlabor

Mikrosondenlabor

Jeol Superprobe mit 5 Spektrometern und EDX System
Jeol Superprobe mit 5 Spektrometern und EDX System
Spektrometer- und Kristallkonfiguration der Elektronenstrahlmikrosonde JXA-8200 (modifiziert nach A. Kronz)
Spektrometer- und Kristallkonfiguration der Elektronenstrahlmikrosonde JXA-8200 (modifiziert nach A. Kronz)
Besputterungs- und Bedampfungsgerät MED 020 der Fa. BAL-TEC
Besputterungs- und Bedampfungsgerät MED 020 der Fa. BAL-TEC
Universeller Probenhalter (inklusive Standards) mit Aufsätzen für Dünn- und Anschliffe
Universeller Probenhalter (inklusive Standards) mit Aufsätzen für Dünn- und Anschliffe
Schleif- und Poliermaschine RotoPol-22 Fa. STRUERS für Anschliff und Dünnschliffe
Schleif- und Poliermaschine RotoPol-22 Fa. STRUERS für Anschliff und Dünnschliffe
 

Dem Lehrstuhl für Mineralogie steht eine Elektronenstrahlmikrosonde der Firma JEOL vom Typ JXA-8200 Superprobe zur Verfügung. Als Elektronenquelle dient eine W-Kathode. Aus der Wechselwirkung von Elektronenstrahl und Probe resultieren u.a. Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen und vor allem charakteristische Röntgenstrahlen. Detektiert werden sie qualitativ und quantitativ mit einem Li-gedrifteten Si-Einkristall EDX Spektrometer und 5 WDX Spektrometer mit verschiedenen Beugungskristallen (LIF, PET, TAP). Auch leichte Elemente (Be, B, C, N, O, F) können mit den speziellen Beugungskristallen  (LDE1, LDE2, LDEB) quantifiziert werden. Die Ausstattung wird durch ein Polarisationsmikroskop komplettiert (Auflicht und Durchlicht). Somit sind qualitative und quantitative Untersuchungen von Proben und deren chemischer Zusammensetzung möglich.
Neben Dünnschliffen und Anschliffen, kann jede Form von Probe untersucht werden, so fern ihr Maß nicht 9 x 9 x 2 cm (L x B x H) überschreitet.

Zusammengefasst gelten folgende Spezifikationen:


•    5 wellenlängendispersive Spektrometer (WDS):
•    Detektierbare Elemente: 4-Be bis 92-U (alle Elemente Mit OZ > 3).
•    8 Beugungskristalle: TAP, PETJ, PETH, LDE1, LDE2, LDEB, LIF, and LIFH.
•    LDE Beugungskristalle und Gasflussdetektoren - Analyse leichter Elemente.
•    Ein energiedispersives Spektrometer (EDS):

Solid-state Si(Li) Detektor, flüss. Stickstoff Kühlung, Ultradünnes Detektorfenster

•    Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) Bilder:

SE Bildauflösung: 6 nm (bei 30 kV Beschleunigungsspannung und 11 mm WD)

BSE: Ordnungszahlkontrast (Summe) und Topographie (Differenz).

•    Multielement Linienanalysen und Mapping  
•    Matrix Korrekturverfahren: ZAF.
•    High-speed large specimen Probenhalter (HSLSS XM-81010):

Maximale Probengröße: 100 x 100 x 50 mm (x; y; z)

Maximale analysierbare Fläche: 90 x 90 mm

•    Beschleunigungsspannung: 0.2 to 30 kV (0.1 kV Stufen)
•    Strahlstrombereich: 10-12 bis 10-5 A
•    Stabilität des Strahlstroms: ± 0.5 x 10-3/h; ± 3 x 10-3/12h
•    Integriertes Polarisationsmikroskop (Auflicht und Durchlicht)